METHOD FOR EXPANDING THE OBJECT BASE OF EXAMINATION BY STITCHING SOLUTIONS OF HIERARCHY ANALYSIS METHOD

Авторы

  • S. V. Bukharin Автор
  • A. V. Melnikov Автор
  • V. V. Menshih Автор

Аннотация

В работе представлены результаты численного моделирования качества оптико-электронных извещателей. Продемонстрирована успешность применения предложенного метода расширения объектовой базы на примерах анализа иерархий обобщенного показателя качества и комплексного показателя качество-цена. Предложенная методика позволит проводить достоверный анализ до количества объектов 21-24, что покрывает потребности большинства практических случаев экспертизы

Биографии авторов

  • S. V. Bukharin
    доктор технических наук
  • A. V. Melnikov
    доктор технических наук
  • V. V. Menshih
    доктор физико-математических наук

Опубликован

2017-09-22

Выпуск

Раздел

Программирование